OTSUKA廣州代理OTSUKA 顯微膜厚計OPTM系列 OPTM-A2 大塚電子

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膜厚測定に必要な機能をヘッド部に集約！顕微分光で高精度な絶対反射率測定（多層膜厚、光學(xué)定數(shù)） 1ポイント1秒以內(nèi)の高速測定顕微下で広い測定波長範(fàn)囲を?qū)g現(xiàn)する光學(xué)系（紫外～近赤外）エリアセンサーによる安全機構(gòu) 初めての方でも光學(xué)定數(shù)解析が可能な楽々解析ウイザード測定シーケンスをカスタマイズ可能なマクロ機能搭載各種カスタマイズに対応測定項目
絶対反射率測定膜厚解析光學(xué)定數(shù)解析（n：屈折率、ｋ：消衰係數(shù)）

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